LVDT的校準對于確保它們在精度和準確度公差范圍內運行至關(guān)重要。這就是為什么每個(gè)離開(kāi)我們工廠(chǎng)的傳感器在發(fā)貨前都經(jīng)過(guò)校準的原因。我們將詳細介紹我們使用的方法，以及我們報告中包含的信息。雖然其他方法可能略有不同，但我們發(fā)現這種方法zui準確。我們希望您能將其作為指導您自己的校準工作的有用工具。

先建立并記錄參考數據。該過(guò)程先對傳感器進(jìn)行電激勵，然后機械地將傳感器設置為零點(diǎn)位置。然后，您將記錄輸出電壓。數據應該在正點(diǎn)和負點(diǎn)，以及介于兩者之間的其他位置。下一步是將收集的數據與允許的值進(jìn)行比較。請記住，值因型號而異，因此請務(wù)必隨身攜帶制造商聲明的值。以下是測試和報告所需的屬性和計算，遵循我們的標準報告格式：

zui大非線(xiàn)性度 – 這是傳感器輸出與計算線(xiàn)之間的zui大jue對差值，以滿(mǎn)量程的百分比表示。稍后，我們將在“校準數據"部分查看計算結果。

計算方法 – 將所獲取的數據與假設代表理想傳感器的計算線(xiàn)進(jìn)行比較。您可以使用以下方法：

• 零基數 - 平均終端 - 這是一種有點(diǎn)基本的方法，非常簡(jiǎn)單，可以手動(dòng)計算。數據在測量范圍內獲取。若要強制測量的結點(diǎn)之間的線(xiàn)通過(guò)零，則通過(guò)獲取現有結點(diǎn)的平均值來(lái)生成一條新線(xiàn)。將每個(gè)數據點(diǎn)與此線(xiàn)進(jìn)行比較，并計算非線(xiàn)性。
   

• 擬合直線(xiàn) - 與以前的方法不同，這種方法是計算密集型的，需要計算機來(lái)分析數據。從傳感器獲取的數據經(jīng)過(guò)數值分析，以產(chǎn)生一條線(xiàn)，該線(xiàn)將線(xiàn)中任何給定點(diǎn)的zui差非線(xiàn)性度降至zui低。
   

• 擬合通過(guò)零的直線(xiàn) – 為了使用此方法計算理想線(xiàn)，該線(xiàn)的 y 截距須為零。此線(xiàn)的斜率圍繞零點(diǎn)進(jìn)行調整，直到每個(gè)點(diǎn)產(chǎn)生的非線(xiàn)性度處于其zui低值。

如何校準您的LVDT

計算線(xiàn) - 在這里，您終于可以應用您可能在高中幾何中學(xué)到的公式：y = mX + b。在方程的實(shí)際應用中，您可以通過(guò)用位移代替 X 來(lái)計算特定位置的理論輸出。

工作范圍 – 這表示傳感器校準的總范圍。對于某些設備，制造商將提供線(xiàn)性范圍和zui大可用范圍。在大多數情況下，校準應線(xiàn)性范圍內執行。

靈敏度 – 這表示測量的位置與電壓輸出之間的關(guān)系，以伏特輸出/單位位移/伏特輸入為單位表示。它由計算線(xiàn)的斜率（m）除以電壓輸入來(lái)計算。

測試位置 – 用于確定傳感器的靈敏度。它表示收集校準數據的電壓。對于直流傳感器，電壓和zui小負載阻抗是相關(guān)的。對于交流傳感器，RMS電壓和頻率是相關(guān)的。

校準數據 – 在這里，您顯示的是校準期間獲取的數據，重點(diǎn)介紹用于計算zui大非線(xiàn)性度的數字，正如我們在本文前面討論的那樣。關(guān)鍵數據點(diǎn)包括：

• 位置 – 獲取數據的機械位置

• 數據 – 每個(gè)位置的實(shí)際輸出電壓

• 零調整數據 - 對于直流傳感器，零位移處的電壓并不總是0.0000 VDC，導致殘余電壓，稱(chēng)為零偏移，需要補償。零點(diǎn)調整數據是每個(gè)位置的輸出電壓減去殘余零點(diǎn)電壓。

重要的是要注意，由于交流LVDT的正交電壓，它們的校準方式須略有不同。AC LVDT的數據不是將設備設置為在0.0000 V零點(diǎn)工作，而是在zui低RMS輸出點(diǎn)周?chē)鷮ΨQ(chēng)獲取。殘余正交電壓是異相分量，通過(guò)解調將其移除。

誤差 % F.S. 

要在每個(gè)點(diǎn)建立非線(xiàn)性，先要從每個(gè)點(diǎn)的計算值中減去零調整后的輸出。然后將差值除以計算器線(xiàn)路的滿(mǎn)量程電壓擺幅。將此數字乘以 100 得到百分比。找到的zui大jue對值表示單位的zui大非線(xiàn)性度。